Industry applications
为了确保半导体制造过程中各个阶段的精确度和质量控制,半导体量测设备需要具有极高的光学检测能力和精度要求。我们通过对合成石英工艺的不断优化,能够制备出具有更好折射率均匀性、极低应力双折射、3D无条纹的光学石英材料,满足半导体量测光学石英材料需求。
定制化3D光均、应力,极高的紫外透过率和抗紫外辐照能力
羟基<250ppm,金属杂质含量<50ppb,尺寸、光均、应力双折射可定制
羟基<1ppm,金属杂质含量<20ppb,尺寸、光均、应力双折射可定制
Copyright © 2024 长飞石英技术(武汉)有限公司版权所有 ICP备案号:鄂ICP备2024032722号-1